Komponenta

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Rok výroby: 2025, Stav: nový, Rentgenový kontrolní systém pro středně velká balení, sáčky. Vhodné pro detekci cizích těles z kovu, skla, kamene, plastu atd. v potravinách nebo nepotravinářských předmětech. - Specifikace: Šířka dopravního pásu: 410 mm; Přesnost detekce: Pb od Ø 0,2 mm, Fe od Ø 0,28 mm, SUS od Ø 0,28 mm, nekovové jako kámen, sklo, od Ø 1,2 mm; Rentgenový výkon: 80 kVp, 1,25 mA; Rozlišení detektoru: 0,4 mm; Rentgenové emise: < 1usv/h; Výška dopravníkového pásu: 850 ± 30 mm; Rychlost dopravníkového pásu (v závislosti na produktu): 10 – 100 m/min; Uživatelské rozhraní: 15" dotykový displej; Software: intellisens®X-ray; Provozní teplota: 5 – 35 °C; Vyhazovací systém: volitelně dle požadavků; Napájení: 220VAC, 50/60Hz; Rozměry systému: D900xŠ920xV1825 mm; Hmotnost: 350 kg. Vezměte prosím na vědomí, že naše nové ceny jsou často nižší než obvyklé ceny použitých. Stačí se zeptat a sdělit nám svůj úkol v oblasti balení. - Obvykle je okamžitě k dispozici 30-50 různých nových strojů ze skladu. Navíc máme velmi krátké dodací lhůty cca 3 týdny u strojů, které jsou vyráběny podle požadavků zákazníka. - Všechny stroje jsou k dispozici s plnou zárukou. Kdodpfjv Nm Inex Ab Uog

Stav: Defektní nosič náhradních dílů (použitý), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 rentgenfluorescenční analyzátor – zdroj náhradních dílů / nefunkční Popis položky: Nabízíme použitý rentgenfluorescenční analyzátor typu Oxford Instruments X-Strata 960. Zařízení pochází z demontáže laboratoře a je nabízeno výhradně jako zdroj náhradních dílů či k opravě. Funkčnost zařízení nebyla ověřena – proto je nabízeno jako nefunkční ve smyslu prodeje. Technické údaje – Oxford Instruments X-Strata 960 (bez záruky) Parametr Popis Model X-Strata 960 Výrobce Oxford Instruments Analyzační metoda Rentgenfluorescenční analýza (XRF) Použití Měření tloušťky vrstev, analýza materiálu, testování drahých kovů Měřicí geometrie Shora nebo zespodu dle konfigurace Zdroj záření Rentgenka (např. s anodou z rhodia), výkon 50–100 W Detektor Proporcionální čítač nebo křemíkový driftový detektor (SDD), dle provedení Měřicí rozsah Tloušťka vrstev cca 0,005 – 50 µm (v závislosti na materiálu) Velikost bodu cca 15 μm – 1 mm (podle použitého kolimátoru) Osa Z Motorizovaně nastavitelná, měřicí výška do cca 230 mm Prostor pro vzorky (Š × H × V) cca 580 × 510 × 230 mm Stůl pro vzorky Manuální nebo motorizovaný (200 × 200 mm nebo větší dle výbavy) Fokus Optický / laserový systém zaostření, částečně automatický Operační systém Integrovaný průmyslový PC s vyhodnocovacím softwarem na bázi Windows Napájení 220–240 V / 50–60 Hz / cca 500–800 W Kedpfjhaapfsx Ab Ujdg Hmotnost zařízení cca 150–200 kg (podle provedení) Stav: použité / nefunkční / jako zdroj náhradních dílů Obsah dodávky: dle fotografií – bez příslušenství nebo softwaru Důležité upozornění: Prodej výslovně jako vadné zařízení bez záruky na funkci. Položka je nabízena jako zdroj náhradních dílů nebo pro kutily. Bez záruky na funkci, kompletnost či technické parametry. Obchodní prodej s vyloučením jakékoli odpovědnosti za vady dle § 447 německého občanského zákoníku (zasílatelský prodej). Obsah dodávky: Oxford Instruments X-Strata 960 Všechny na fotografiích viditelné součásti Další díly, příslušenství nebo dokumentace nejsou součástí dodávky, pokud nejsou výslovně uvedeny. Doprava a vyzvednutí: Osobní odběr možný a upřednostňovaný v Borkenu Odeslání možné po dohodě. (Změny a chyby v technických údajích a popisu jsou vyhrazeny!) Pro další dotazy nás neváhejte kontaktovat telefonicky.

Rok výroby: 2016, Stav: velmi dobrý (použité), Automatická rentgenová kontrola Pro kontrolu BGA, QFN, THT, LED, LGA a dalších pájených spojů, ať už viditelných nebo skrytých. Další vlastnosti: Včetně offline stanice a opravárenské stanice OS: Windows 7 Kedpfx Abowpuadj Uedg Ultrarychlostní CCD detektory s řádkovým skenováním Inspekční oblast: 450 mm - 400 mm Snímání obrazu: 2D, 2,5D, 3D (snímky řezů s planárním CT) Rozměry desky plošných spojů: 60 - 450 x 50 - 400 mm Rozlišení AXI: 6 - 30 µm / px AOI: Zorné pole kamery: 42 mm x 42 mm Rozlišení: 21 µm Inspekční výška: -3 až 7,5 mm Optika: telecentrická Přepravní výška: 950 mm +/- 25 mm Rozhraní: SMEMA Nastavení šířky: automatické

Rok výroby: 2016, Stav: připraven k použití (použité), K dispozici je nový rentgenový kontrolní systém Anritsu. Rentgenový výkon: 100W, max. šířka detekce: 240mm, max. výška detekce: 120mm, rychlost detekce od 2kg do 5kg: 10m-60m/min, rychlost detekce do 2kg: 60m-90m/min, rychlost detekce od 5kg do 10kg: 10min-20kg, hmotnost stroje: 5m/min 0h. Stroj nevykazuje žádné opotřebení na dopravním pásu ani na clonách ochrany proti záření. Dokumentace k dispozici. Kontrola na místě je možná. Kdjdpfxsvzr Auo Ab Uog

Stav: použitý, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD rentgenový difraktometr (XRD) Výňatek ze servisní zprávy: Zařízení: PANalytical X’Pert PRO MPD Zpracováno dne: 07.07.2021 Prováděné práce: - Opětovná instalace a zprovoznění systému - Připojení externích napájecích vedení - Zahřívací fáze - Kompletní seřízení goniometru a dalších komponentů - Provedení údržby včetně výměny vadných dílů Použité náhradní díly: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIE. NI-CD VENTILÁTOR PRO JEDNOTKU X-CELERATOR FILTROVÁNÍ VODA Motor PW3050 ("Zařízení nebylo testováno v našem závodě") X’Pert PRO MPD je velmi univerzální a výkonný rentgenový difraktometr (XRD) určený ke strukturní charakterizaci krystalických materiálů – ideální pro základní výzkum i rutinní aplikace v průmyslu a na univerzitách. Díky modulární konstrukci, rychlému detektoru a možnosti řízení teploty a atmosféry je vhodné jak pro rutinní analýzy, tak pro složité in-situ experimenty. Hlavní vlastnosti: Různé měřicí geometrie: - Reflexní měření v Bragg-Brentano (θ–2θ) módu - Transmisní geometrie pro prášky v kapilárách - Volitelně také SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) pro nanostruktury Zdroje a detektory záření: - Nejčastěji měděná anoda (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - X’Celerator detektor (1D, ultra rychlý) pro paralelní sběr dat Modulární systém s technologií PreFIX: - Rychlá výměna optik a vzorkových stolů bez potřeby nové kalibrace In-situ měření při vysokých teplotách: Kdsdpjwycatsfx Ab Ueg - Měření až do cca 1200 °C - Řízená atmosféra: vzduch, dusík, kyslík (redukující pouze omezeně) Typické aplikace: - Fázová analýza a kvantitativní Rietveldova analýza - Určení velikosti krystalitů, mikrodeformace, vnitřní napětí - In-situ sledování fázových přechodů, oxidace, krystalizace apod. - SAXS měření pro analýzu nanočástic, pórovitých struktur - Široká škála vzorků: prášky, tenké vrstvy, keramiky, farmaceutika, katalyzátory a další Technické údaje (typické) Vlastnost a specifikace Úhlový rozsah (2θ): cca 0,5° až 150° Krok až 0,002° nebo jemnější Goniometr: vertikální 0–0, poloměr cca 240 mm Teplotní rozsah: pokojová teplota až cca 1200 °C Atmosféra: vzduch, N₂, O₂ (redukující pouze omezeně) Detektory: X’Celerator (1D), proporcionální čítač Rozšíření a použití: X’Pert PRO MPD je používán po celém světě, např. na: Univerzitách (ETH Zürich, TU Dresden, Universität Wien) Výzkumných ústavech (např. Max-Planck-Institut, ICN2, IS2M) Průmyslu (např. vývoj materiálů, farmacie, chemie) Stav: použité Dodávka obsahuje: (viz foto) (Změny a omyly v technických údajích a informacích vyhrazeny!) Další otázky rádi zodpovíme telefonicky.

Stav: dobrý (použitý), Helmut Fischer Fischerscope rentgenfluorescenční měření tloušťky vrstev XDL-XYmZ Kdjdpfx Ajw Hbkdob Ujg